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“大范圍表面形貌測量白光場掃描技術研究”項目立項

儀表研發 2019年06月28日 08:32:21 來源:上海市計量測試技術研究院人氣:16573
  【儀表網 儀表研發】近日,2019年度國家航空科學基金項目評審結果公布,上海市計量測試技術研究院機械制造所雷李華博士申報的“大范圍表面形貌測量白光場掃描技術研究”獲立項資助,這是上海市計量測試技術研究院首次獲批國家航空科學基金實驗室類項目。
 

 
  上海市計量測試技術研究院(SIMT)是我國最早建立的計量檢定專業機構之一,是上海地區唯一由國家授權的法定計量檢定機構,也是國家計量行政部門批準設立的大區計量測試中心——“華東國家計量測試中心”,國家科技行政部門命名的國家級測試中心——“中國上海測試中心”,迄今已走過80多年的歷程。
 
  國家航空科學基金創立于1985年,是航空工業開展基礎研究的主渠道之一,主要用于開展裝備預研航空工業聯合基金中的基礎研究類項目,重點資助對航空技術和武器裝備發展具有應用前景或潛在應用前景的基礎研究和應用基礎研究。
 
  “大范圍表面形貌測量白光場掃描技術研究”項目基于已有的傳統白光干涉測量裝置,著重研究雙角度白光傾斜掃描干涉術、自適應變速掃描技術和單幅圖像白光干涉分析中的關鍵理論問題,建立掃描過程模型,解決掃描過程中表面數據點的精確追蹤問題,突破傳統垂直白光掃描技術的橫向測量視場范圍的限制,提高大尺寸表面形貌的快速測量與重構能力,可解決航空航天、納米制造等產業測量中的大范圍、高精度測量需求,有利于促進航空科學技術的發展和進步。
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